SSP3112-X LED芯片光色电参数综合测试仪
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SSP3112-X LED芯片光色电参数综合测试仪
详细信息 一、仪器简介 SSP3112-X型LED芯片分光分色测试系统由SSP3112型LED光色电特性分析系统和LED芯片测试平台组成。光强测量选用近场测量条件，光纤耦合。 二、主要功能 ◆ 快速（1-2S）测量芯片的光参数、电参数和色参数，并在软件上显示出数值以及光谱曲线。 ◆ 可测量参数包括正向电压、正向电流；光强（mcd）、峰值波长、主波长、半宽度（带宽）、色温、色坐标（x , y）或（u ,v）值、色纯度、显色指数等。 ◆ 用户可根据需要对波长和色坐标自行最多256档位的分档，测试的同时软件会按照客户的分档范围自行显示档位。 ◆ 系统具有数据库功能，可以显示、保存、查询、打印测量的各项参数和光谱能量曲线图形。 ◆ 软件自动生成报表，并可直接连接打印机进行打印。 共0条 相关评论 |
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